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上海精科物理光学厂X-4B显微熔点仪

上海精科物理光学厂X-4B显微熔点仪

更新时间:2017-06-03

型    号:X-4B
市场报价:5800

测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

上海精科物理光学厂X-4B显微熔点仪产品概述:

品牌:上海仪电物理光学仪器有限公司  (原上海精科厂)
名称:显微熔点仪

型号:X-4B


产品描述:

测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

技术参数:

熔点测量范围:室温至320℃ 
测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)/±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时) 
温度显示小值:0.1℃

熔点观察方式: 双目显微镜 

光学放大倍数 40-100X

同系列产品:

名称

型号

主要技术参数

熔点仪

WRS-3

范围:室温~320℃,温度数显小示值0.1℃,示值误差:在环境温度为23℃±5℃时,应符合下列要求:(1)在<200℃范围内为±0.5℃时(2)在200-320℃范围为±0.8℃时,示值重复性:升温速率为1.0℃/min,样品的不确定度为0.3℃,线性升温速率误差不大于名义值的10%

熔点仪(程控、数显)

WRR

范围:40~280℃ 重复性:0.3℃

小数单位:0.1℃(可同时测试3个样品)

数字熔点仪

(微机、液晶数显)

WRS-1B

范围:室温~300℃ 小读数:0.1℃

接口输出RS232、通过PC显示熔化曲线

数字熔点仪

(微机、点阵液晶)

WRS-2

同上(直接显示熔化曲线及测量结果)

WRS-2A

同上(可同时测三个样品)

微机熔点仪

WRS-2C

范围:室温~300℃,温度数显小值:0.1℃,线性升温速度率:0.1℃/min之间任意连续,

测定熔点的示值误差:≤200℃;±0.4℃;>200℃;±0.7℃,重复性:0.3℃

微机熔点仪

WRS-1C

范围:室温-400℃,“起始温度”设定时间:50-400℃,不大于5min;设定时间:400-50℃,不大于7min;温度数显小示值0.1℃;线性升温速率:0.1-20.0℃/min之间任意连续可选;重复性0.3

全套显微热分析仪

(程控、数显)

(显微熔点仪)

WRX-1S

范围:室温~300℃ 重复性:0.4℃;小读数单位:0.1℃;(附XSP-8CA三目生物显微镜,CCD)(显示部分选购),总放大倍数40-1600X,调焦25mm,微动格值0.002mm;移动范围:横向50mm 纵向70mm

显微熔点仪(数显)

X-4

范围:室温~320℃,小读数单位:1℃,

重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃)

显微熔点仪(数显)

X-4A

范围:室温~320℃,小读数单位:0.1℃,

重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃)

显微熔点仪(数显)

X-4B

范围:室温~320℃,小读数单位:0.1℃,

重复性:±1℃(<200℃),±2℃(≥200℃)

双目体式显微镜,光学放大倍数:40倍-100倍

滴点软化点测定仪

(程控、液晶数显)

WQD-1A

范围:室温~300℃

小读数单位:0.1℃

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